有爆料人在周一称，苹果公司正在一款采用单挖孔摄像头的 iPhone 18 Pro 原型机上积极测试屏下面容 ID 系统。
据微博账号“数码闲聊站”称，苹果公司正在为预计将于明年发布的 iPhone 18 Pro 和 iPhone 18 Pro Max 测试屏下 3D 面部识别技术。
这位爆料人的最新说法证实了 The Information 周末的一篇报道，该报道称，苹果两款 iPhone 18 Pro 机型可能会采用屏下面容 ID，仅在屏幕左上角开一个小孔以容纳前置摄像头。
屏下面容 ID 是一项重大的工程挑战，因为它要求苹果公司在 iPhone 的 OLED 显示屏下方集成复杂的红外面部识别传感器，并且不能影响其准确性和可靠性。
与简单的前置摄像头不同，面容 ID 依靠投射和读取数千个红外点来创建用户面部的详细深度图。OLED 面板会自然阻挡或散射大部分红外光，导致系统难以在屏幕下方正常工作。
